Smart 3D Inspection for EV Battery | LMI Technologies

Smart 3D Inspection for EV Battery

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晶圆检测 (尺寸测量,分拣和缺陷检测) 激光划片/切割完成后,Gocator® 3D线共焦传感器可用于测量晶圆切割的尺寸精度,比如凹槽深度以及切缝宽度,同时可检出晶圆崩边等缺陷。这样可以使每个硅片制成更多可用的芯片,并确保最高的质量和生产速度,以达到最高的产能。 晶圆分拣 业内首款智能3D线共焦传感器 了解更多 生成三种类型的数据结果 Gocator® 线共焦传感器可同时生成3D形貌(用于3D表面几何特征)、3D断层扫描(用于构建多层3D几何特征)和2D亮度数据,能够处理几乎任何材料类型,包括多层、透明、曲面、混合材料等等。 Gocator® 3D线共焦传感器可扫描和检测晶圆尺寸、厚度和平整度,此外还支持压模芯片高精度检测及其他表面缺陷的检出。 Gocator® 5500 高速扫描帧率 Gocator® 5500传感器配备了定制的高速成像仪和高性能电路部分,使用PC加速时可提供超过10kHz的计量级检测。 BGA/PGA检测 (位置,高度,半径) Gocator 3D线共焦传感器装配和IC测试阶段中BGA和PGA的位置,高度,半径检测。 业内首款智能3D线共焦传感器 了解更多 Gocator® 5500 Series BGA(球栅阵列式封装)检测 Gocator® 3D线共焦传感器可以精确测量球高,球径,球位置,以及直径低于50μm的球的相应参数。 PGA(插针网格阵列封装)检测 Gocator® 3D线共焦传感器可精确检测PGA针脚高度以及位置度,确保后续插拔过程中不会接触不良,且规避因位置偏移导致针脚损坏等缺陷的发生。 焊点检测 Gocator® 3D线共焦传感器可以在焊接前准确测量和检测接头位置的平面度和高度,并在后续焊接完成后最大限度地减少焊点的破损。 银浆检测(压模工艺) Gocator® 3D线共焦传感器可精确测量每个Lead frame区域中涂覆银浆的面积占比及银胶高度(即厚度)。 内置测量工具 用户可使用内置工具进行面积和体积测量,无需购买第三方视觉软件或自行开发图像处理算法。 Gocator® 5500 series 了解更多 可扫描任意类型的材料 得益于3D成像的对比度不变,因此可用于扫描从不透明到半透明到透明的各种粘合剂材料。而2D解决方案无法提供形状测量,因为2D成像只能生成基于对比度的数据。 业内首款智能3D线共焦传感器 3D形貌数据 Gocator传感器生成基本的3D形貌数据,用于精密体积测量和基于形状的缺陷检测(例如气泡和厚度)。 引线焊接缺陷检测 Gocator® 3D线共焦传感器可以高精度地测量引线(金线,铜线或铝线)的高度和位置度。 基于网络浏览器的用户界面 技术人员可通过网络浏览器便捷访问传感器控制界面,通过简单点击按钮即可迅速校准传感器。内置丰富的测量工具和I/O接口,可轻松获得所需的结果。 Gocator线共焦传感器在高反光、镜面、透明和多层材质表面上性能表现出色。 在挑战性材质表面具有高性能表现 缺陷检测 Gocator线共焦传感器还可以检测引线本身的缺陷(例如断线或弯曲)。 Gocator® 5500 series 了解更多 业内首款智能3D线共焦传感器 焊点烧球过程中的尺寸测量 Gocator® 3D线共焦传感器可以在焊线最细达到2.5微米的情况下精 确测量球的直径和高度(厚度)。 Gocator® 5500 了解更多 Gocator线共焦传感器还可用于检测所有球形凸块之间的共面性 -通过数据的高度变化检测任何可能由应力分布不均导致的芯片破裂和断路。 共面度测量 业内首款智能3D线共焦传感器 高密度データ生成 Gocator® ライン共焦点センサーは、表面あたり、1 秒あたり最大 2,800 万の 3D および 2D データポイントを生成します。 高分辨率和重复性 Gocator线共焦传感器X方向分辨率高达 2.5µm,Z方向重复性高达0.05 µm,执行高精度高准确性的测量。 封装后的尺寸测量和缺陷检测 Gocator® 3D线共焦传感器可以在封装后快速扫描获取芯片的长度、宽度和高度信息。 Gocator® 5500 series 了解更多 These sensors can also output high-resolution 2D grayscale images to detect defects such as pits and scratches. 2D Intensity Output 业内首款智能3D线共焦传感器 FactorySmart®传感器 我们的3D智能传感器可与网络无缝连接并传输结果数据,通过网络浏览器显示测量结果和统计数据,通过互联网升级设备以及与工厂设备进行交互。 1250x500 Semiconductor SiliconWaferInspection TypeOfScanData G5500 Product Family Comp transparent magnifying glass icon white 1 Wafer Defect Zoom 5500 LP icons presentation High Speed Scanning BGA Inspection G5 Comp 1250x500 Semiconductor BGAInspection G5500 Product Family Comp transparent BGA Closeup BGA FullZoom 1250x500 Semiconductor SilverAdhesive 2.measurement tools all 1 BGA 3D Data G5500 Product Family Comp transparent FocalSpec LP Icons Wide Variety of Challenging Materials 1250x500 Semiconductor WireBondInspection Web Based Interface Sensor Wire Defect Wire Bond Scan G5500 Product Family Comp transparent 1250x500 Semiconductor BallBumpDimensioning G5500 Product Family Comp transparent BallBump Sensor Zoom 2510 Sim Coplanarity 5500 LP icons High Resolution Imaging new 1250x500 Semiconductor FinalPackageInspection G5500 Product Family Comp transparent FactorySmartAI Icons Superhuman Performance Intensity comparison

3D智能传感器助力半导体制造检测

半导体生产需要复杂的制造工序,包括机械加工,光刻和化学处理等,加工过 程中芯片均在由纯半导体材料制成的晶圆上制成,一般采用硅片,也可根据实 际应用选用各种化合物半导体材料。 Gocator® 3D线共焦传感器可为制造工 艺中的各个阶段提供精确的3D在线扫描和检测,得到最佳的产品质量和最优 化的产能。

Semicondcutor Inspection Brochure Gocator 4000 Gocator 5000

Gocator 4000 系列引入同轴线共焦传感技术,扩充 LMI 现有的线共焦产品组合。 该系列传感器提供高速、高分辨率、多功能、无阴影的 3D 在线检测性能,具有出色的兼容角度(最大兼容角度可达 +/- 85 度),适用于半导体、消费电子和动力电池等制造应用。

Gocator Logo 5500系列

推荐解决方案

Gocator® 家族现加入受专利保护的Gocator® 5500系列线共焦成像 (LCI) 技术传感器。Gocator® 5500线共焦传感器提供高速、宽FOV下,2K数据点的线扫描,可同时生成三种类型的数据:3D多层,3D形貌和2D强度数据。

Gocator 5500系列传感器能够以亚微米级精度扫描几乎任何类型的材料,包括:多层,透明/半透明,曲面边缘,有光泽/镜面,高对比度带纹理等,且质量和速度均优于竞品共焦技术。

Gocator Logo 2500系列

推荐解决方案

Gocator 2500 3D智能传感器是目前市面上最快、最紧凑和最先进的三维智能传感器。专为高性能微小零部件检测而设计,实现高速度扫描(高达10 kHz),超高X方向分辨率(8μm)。采用两百万像素的高速成像芯片,专属优化的光学设计和蓝色激光,在扫描高反光或其他具有挑战性的物体表面时可以获得更卓越的数据,并实现高重复性。

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LMI Technologies为工厂设计并提供最先进的智能3D技术。我们的3D解决方案在汽车、消费电子、橡胶和轮胎,公路和铁路以及木材等行业中备受信赖,通过对产品和工艺的检测、自动化和优化来改善生产。

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