亚微米级表面三维测量
亚微米级表面三维测量
应用于工业及实验室
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3D表面测量
快速生成表面扫描
MikroCAD可帮助客户在各种不同应用中获取重要的亚微米级表面信息 – 以惊人的分辨率进行扫描，使用工业标准的测量工具来分析，并通过高效可视化进行报告。
MikroCAD案例
切削刀具测量应用
ZOLLER在其pomSkpGo系统中使用MikroCAD，在短短几秒钟内生成亚微米级3D切割工具边缘扫描，使用结构光捕获完整的X-Y-Z点云边缘几何。
MikroCAD - 最具成本效益的3D显微镜 测量光泽，反光和切削
测量光泽，反光和切削
MikroCAD可以在各种具有挑战性的扫描表面（如光泽，反射和切削）上提供亚微米的精度和重复性，而共聚焦三维技术很难扫描此种类型的目标物。
使用MikroCAD 3D 表面测量包括：
- 测量光泽，硬度，柔软和可变形物体的粗糙度和表面结构。（MikroCAD是用于表征金属，纸张，橡胶等制成材料检测的理想选择）
- 测量大面积的均匀度/平整度
- 测量磨损
- 改善纤维级制造工艺
- 分析工具的边缘，如齿轮，切削工具等
- 反向工程功能表面
具有MountainsMap®技术的MikroCAD软件组成MikroCAD表面三维测量系统
全面的扫描，分析和报告软件
将硬件扫描仪连接，曝光设置和实时视频反馈与MountainsMap®3D分析，可视化和计量报告相结合，提供无缝，流畅和高效的用户工作流程。
