业内首创的点云图案匹配工具用于2D和3D扫描 | LMI Technologies

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业内首创的点云图案匹配工具用于2D和3D扫描

现在用户可以通过高级图案匹配工具从2D或3D扫描数据中定位特征。

新点云图案匹配工具利用强大的基于轮廓的图案匹配功能,以亚像素精度定位以下任意特征:

• 2D对比度(强度)数据
• 或3D形状(高度)数据

每个被工具定位的图案都有XY坐标和方向,并且应用于大多数视觉应用的初始步骤。

点云图案匹配工具的核心功能是使您可在单个扫描周期内同时识别一个或多个图案。这在扫描具有多个待扫图案的复杂零件或点云特征时特别有用,例如键盘。

我们需要同时在键盘上定位三类离散的主要图案。

主要图案包括:

• 小按键 
• 常规按键
• 大空格键

Pattern Sizes Keyboard
键盘图案大小区分

要为每个按键设置一个模型,我们只需应用一个边界框来捕获按键轮廓,单击打开“操作”功能,然后创建单个的模型。

Region Create
创建模型

请注意,使用点云图案匹配工具中三个单独的实例创建的模型。每一个都可以固定到数据查看工具中,您可以一次查看所有模型数据。点云图案匹配工具便可同时使用三个模型来识别扫描数据中能够匹配的图案。

Pattern Tool Instances
图案工具案例

点云图案匹配工具可在单次扫描的三个图案中定位一个或多个实例。例如,它找到一个空格键图案的实例,同时还能找到8个小按键图案的实例。

点云图案匹配工具还可以识别任意位置的图案。当要检测的特性在不同帧之间来回切换时,此功能特别有用

以这种三极管晶体管为例,它们在扫描时会旋转并且改变位置。

我们使用点云图案匹配工具来创建晶体管顶端的模型。该工具将使用此图案确定零件方向。

Transistor 1
Transistor 1

现在当我们在不同帧转换时,我们可以看到在每次扫描中都能够找到图案的XY位置和角度信息。我们可以使用此信息来锚定接下来的工具。

Transistor 2
Transistor 2

例如,添加一个点云圆孔工具,然后使用点云图案匹配工具的X和Y位置信息进行锚定。

Transistor 3
Transistor 3

我们可以继续以这种方式添加工具并将其固定到数据查看工具中,从而创建一个强大的测量系统来计算零件和特征的移动。

使用图案编辑器,我们甚至可以对模型进行单独修改,以隔离或删除某特定轮廓(例如不需要的边缘),从而实现更强大的测量和检测。

PatternEditor
PatternEditor

图案匹配工具还可用于:

• 尺寸变化
• 局部遮挡
• 对比度反差(浅色上的深色或深色上的浅色)
• 形状反差(凸起形状或浮雕形状)
• 重叠图案

Transistor 4
Transistor 4

一旦点云图案匹配工具识别出一个图案,该工具将返回“匹配质量”和“匹配拟合”值,表示图案与图案模型的匹配程度。并且,由于点云图案匹配工具是内置的工具,您可以利用其他工具例如滤波和掩膜,以实现更好的控制。

请在最新版Gocator软件试用点云图案匹配工具。