Jetzt können Sie einen erweiterten Musterabgleich durchführen, um eindeutige Merkmale aus 2D- oder 3D-Scandaten zu lokalisieren.

Das neue Werkzeug Oberflächenkonturabgleich nutzt einen leistungsstarken konturbasierten Teileabgleich, um beliebige Merkmale mit einer Genauigkeit im Subpixelbereich zu lokalisieren. Das Werkzeug basiert entweder auf:

• 2D-Kontrastdaten (Intensität)
• oder 3D-Formdaten (Höhe)

Bei jedem Muster, das vom Werkzeug lokalisiert wird, wird die XY-Position sowie die Orientierung ermittelt. Dies ist der erste Schritt bei den meisten Bildverarbeitungsanwendungen.

Der große Vorteil vom Oberflächenkonturabgleich besteht darin, dass Sie ein oder mehrere Formen gleichzeitig in einem einzigen Scanzyklus lokalisieren können. Dies ist besonders nützlich, wenn Sie komplexe Teile oder Oberflächenmerkmale scannen, die mehrere interessante Muster aufweisen, wie z. B. die Tasten einer Tastatur.

Auf der Tastatur wollen wir drei diskrete Hauptmerkmale gleichzeitig lokalisieren.

Diese Merkmale sind:

• kleine Taste
• die Standardtaste
• und die große Leertaste

Um ein Modell für jede Taste zu erstellen, wenden wir einfach eine Umrandungsbox an, um die Kontur der Taste zu erfassen. Dann auf Erstellen klicken, um die Funktion Operationen zu öffnen und individuellen Modelle für die verschiedenen Tasten zu erzeugen.

Beachten Sie, dass die Modelle mit drei separaten Instanzen des Werkzeugs “Oberflächenmusterabgleich” erstellt werden. Jedes davon kann an die Datenanzeige angeheftet werden, so dass Sie alle auf einmal sehen können.

Das Werkzeug ” Oberflächenkonturabgleich” kann eine oder mehrere Instanzen der drei Muster im selben Scan finden. Es findet z. B. eine Instanz des Tastenmusters “Leertaste” oder gleichzeitig 8 Instanzen des Musters “kleine Taste”.

Das Werkzeug lokalisiert Muster im gesamten Scanbereich unabhängig von ihrer Position. Dies ist besonders nützlich, wenn sich das zu untersuchende Element von Bild zu Bild bewegt.

Als Beispiel zeigen wir diesen Leistungstransistor, der zwischen den Scans rotiert und verschoben wurde.

Dieses Mal verwenden wir das Werkzeug “Oberflächenkonturabgleich”, um ein Modell vom oberen Ende des Transistors zu erstellen. Das Werkzeug verwendet dann dieses Muster, um die Teileausrichtung zu bestimmen.

Wenn wir nun zwischen den Einzelbildern wechseln, können wir sehen, dass die XY-Position und die Drehung des Musters auf jedem der Scans gefunden wird. Wir können diese Informationen verwenden, um nachfolgende Werkzeuge zu verankern.

Fügen wir zum Beispiel das Werkzeug Oberfläche Loch hinzu und verankern es mit der X- und Y-Position des Werkzeugs Oberflächenkonturabgleich.

Auf diese Weise können wir weiterhin Werkzeuge hinzufügen und sie an die Datenanzeige anheften, und so ein robustes Messsystem schaffen, das die Bewegung von Objekten und Merkmalen berücksichtigt.

Mit dem Muster-Editor können wir sogar individuelle Modifikationen an unseren Modellen vornehmen, um bestimmte Konturen zu isolieren oder zu entfernen wie z. B. unerwünschte Kanten. Und somit für eine robustere Messung und Inspektion sorgen.

Das Werkzeug Konturabgleich ist ebenfalls sehr effektiv bei der Verarbeitung von: 

• Maßstabsabweichungen
• Partiellen Okklusionen
• Kontrastumkehr (dunkel auf hell oder hell auf dunkel)
• Formumkehrung (erhöhte oder geprägte Formen)
• sich überlappenden Konturen

Sobald der Oberflächenkonturabgleich eine Kontur identifiziert hat, gibt das Werkzeug die Werte für die Übereinstimmung und die Passform aus. Diese geben dann an, wie gut die Kontur mit dem Mustermodell übereinstimmt. Nach der Ausführung des Konturabgleichs können Sie die Positions- und Rotationsmessungen für jedes gefundene Muster als Anker für andere integrierte Gocator-Messwerkzeuge verwenden.

Testen Sie das Werkzeug Oberflächenkonturabgleich in der neuesten Gocator® Software verfügbar.