라인 공초점 이미징
LCI 기술은 센서의 송신기에서 방출하는 백색광을 여러 파장으로 이루어진 연속 스펙트럼으로 분리하는 광학 방식인 측면 색수차를 기반으로 합니다. 각 파장은 센서로부터 일정한 거리의 측정 표면에 초점을 맞추어 수직으로 된 초점면을 형성합니다. 이 기술을 동축 디자인에 이용하면 단일 및 다중 포인트 구조를 파악할 수 있고, 축외 디자인에 이용하면 라인 구조를 파악할 수 있습니다.
라인 공초점 이미징 기술은 미크론 미만의 해상도와 빠른 측정 속도가 필요한 까다로운 활용 분야의 3D 지형도와 3D 단층 촬영, 2D 선명도 이미징에 사용됩니다.
